分析サービス トピックス

2026.06.08 X線光電子分光分析 (XPS)ページと集束イオンビーム加工 (FIB)ページにアプリケーションノートを追加いたしました。

作成者: イオンテクノセンター|Jun 8, 2026 6:38:07 AM

 

X線光電子分光分析 (XPS) ページにアプリケーションノート「酸化アルミニウムの酸化数評価」を追加いたしました。

集束イオンビーム加工(FIB) ページにアプリケーションノート「断面FIB-SEM観察」を追加いたしました。



ご質問等ございましたらお気軽にご相談ください。
今後とも宜しくお願い申し上げます。