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2026.06.08 X線光電子分光分析 (XPS)ページと集束イオンビーム加工 (FIB)ページにアプリケーションノートを追加いたしました。

 

X線光電子分光分析 (XPS) ページにアプリケーションノート「酸化アルミニウムの酸化数評価」を追加いたしました。

集束イオンビーム加工(FIB) ページにアプリケーションノート 「断面FIB-SEM観察」を追加いたしました。


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