ニュース | イオンテクノセンター

2026.6.25 　X線反射率法 (XRR)、X線回折法 (XRD)ページをリニューアルしました。のサムネイル

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材料解析

2026.6.25 　X線反射率法 (XRR)、X線回折法 (XRD)ページをリニューアルしました。

2026.06.08　X線光電子分光分析 (XPS)ページと集束イオンビーム加工 (FIB)ページにアプリケーションノートを追加いたしました。のサムネイル

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2026.06.08　X線光電子分光分析 (XPS)ページと集束イオンビーム加工 (FIB)ページにアプリケーションノートを追加いたしました。

2026.05.29 　XPS特別価格キャンペーン開催のご案内のサムネイル

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2026.05.29 　XPS特別価格キャンペーン開催のご案内

2026.05.29 　X線光電子分光分析 (XPS)ページにアプリケーションノートを追加いたしました。のサムネイル

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2026.05.29 　X線光電子分光分析 (XPS)ページにアプリケーションノートを追加いたしました。

2026.5.24-28 開催のCSW2026 (Compound Semiconductor Week)にて口頭発表を行います。のサムネイル

学会

2026.5.24-28 開催のCSW2026 (Compound Semiconductor Week)にて口頭発表を行います。

2026.4.22 集束イオンビーム加工 (FIB) ページを追加いたしました。のサムネイル

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2026.4.22 集束イオンビーム加工 (FIB) ページを追加いたしました。

2026.4.14-17 ICEP2026にご参加いただきありがとうございました。のサムネイル

展示会

2026.4.14-17 ICEP2026にご参加いただきありがとうございました。

2026.3.27 走査型容量顕微鏡 (SCM) / 走査型広がり抵抗顕微鏡 (SSRM) ページを追加いたしました。のサムネイル

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2026.3.27 走査型容量顕微鏡 (SCM) / 走査型広がり抵抗顕微鏡 (SSRM) ページを追加いたしました。

2026.3.15-18 第73回応用物理学会春季学術講演会展示会「JSAP EXPO Spring 2026」に出展致します。のサムネイル

展示会
学会

2026.3.15-18 第73回応用物理学会春季学術講演会展示会「JSAP EXPO Spring 2026」に出展致します。

2026.2.19　透過電子顕微鏡 (TEM)ページをリニューアル、ラザフォード後方散乱分析(RBS)/弾性反跳検出分析(ERDA)ページを追加いたしました。のサムネイル

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2026.2.19　透過電子顕微鏡 (TEM)ページをリニューアル、ラザフォード後方散乱分析(RBS)/弾性反跳検出分析(ERDA)ページを追加いたしました。

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採用情報

【説明会情報】津田サイエンスヒルズ就職面接会

2025.12.19 　信頼性評価試験ページをリニューアルしました。のサムネイル

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信頼性試験

2025.12.19 　信頼性評価試験ページをリニューアルしました。

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