ニュース | イオンテクノセンター

2025.11.21 　二次イオン質量分析 (SIMS)、X線光電子分光分析 (XPS・ESCA)ページをリニューアルしました。のサムネイル

お知らせ

2025.11.21 　二次イオン質量分析 (SIMS)、X線光電子分光分析 (XPS・ESCA)ページをリニューアルしました。

2025.11.19-20 第12回先進パワー半導体分科会に出展致します。のサムネイル

展示会
学会

2025.11.19-20 第12回先進パワー半導体分科会に出展致します。

2025.10.8-9 第2回九州半導体産業展に出展致します。のサムネイル

展示会
信頼性試験
材料解析

2025.10.8-9 第2回九州半導体産業展に出展致します。

2025.9.7-10 第86回応用物理学会秋季学術講演会展示会に出展致します。のサムネイル

展示会
学会

2025.9.7-10 第86回応用物理学会秋季学術講演会展示会に出展致します。

お知らせ

７）ダメージ蓄積モデルによるチャネリングシミュレーション

お知らせ

６）チャネリングイオン注入の臨界角度に関する基礎

お知らせ

５）二体散乱モデルによるイオン注入現象解析の課題

お知らせ

４）チャネリングイオン注入の基礎

お知らせ

３）酸化ガリウムへのイオン注入

お知らせ

２）窒化ガリウムへのイオン注入

お知らせ

１）二体散乱近似に基づくイオン注入現象

2025.08.19【論文掲載】応用物理学の学術誌JJAPに論文が掲載されました。のサムネイル

論文

2025.08.19【論文掲載】応用物理学の学術誌JJAPに論文が掲載されました。

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