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title: 分析サービス　トピックス | イオンテクノセンター
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# 分析サービス　トピックス

- [ALL](https://iontc.co.jp/service/ana/topics)
- [お知らせ](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/tag/お知らせ)
- [材料解析](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/tag/材料解析)
- [展示会](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/tag/展示会)
- [信頼性試験](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/tag/信頼性試験)

[![2026.07.09　信頼性評価試験ページにアプリケーションノートを追加いたしました。のサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%B5%E3%83%A0%E3%83%8D%E3%82%A4%E3%83%ABlogo.jpg)

- お知らせ
- 信頼性試験

### 2026.07.09　信頼性評価試験ページにアプリケーションノートを追加いたしました。

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/2026.07.09-信頼性評価試験ページにアプリケーションノートを追加いたしました-)

[![2026.6.25 　X線反射率法 (XRR)、X線回折法 (XRD)ページをリニューアルしました。のサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%B5%E3%83%A0%E3%83%8D%E3%82%A4%E3%83%ABlogo.jpg)

- お知らせ
- 材料解析

### 2026.6.25 　X線反射率法 (XRR)、X線回折法 (XRD)ページをリニューアルしました。

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/2026.6.25-x線反射率法-xrr-x線回折法-xrdページをリニューアルしました-)

[![2026.06.08　X線光電子分光分析 (XPS)ページと集束イオンビーム加工 (FIB)ページにアプリケーションノートを追加いたしました。のサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%B5%E3%83%A0%E3%83%8D%E3%82%A4%E3%83%ABlogo.jpg)

- お知らせ
- 材料解析

### 2026.06.08　X線光電子分光分析 (XPS)ページと集束イオンビーム加工 (FIB)ページにアプリケーションノートを追加いたしました。

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/2026.06.08-x線光電子分光分析-xpsページと集束イオンビーム加工-fibページにアプリケーションノートを追加いたしました-)

[![2026.05.29 　XPS特別価格キャンペーン開催のご案内のサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%B5%E3%83%A0%E3%83%8D%E3%82%A4%E3%83%ABlogo.jpg)

- お知らせ
- 材料解析

### 2026.05.29 　XPS特別価格キャンペーン開催のご案内

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/2026.05.29-xps特別価格キャンペーン開催のご案内)

[![2026.05.29 　X線光電子分光分析 (XPS)ページにアプリケーションノートを追加いたしましたのサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%B5%E3%83%A0%E3%83%8D%E3%82%A4%E3%83%ABlogo.jpg)

- お知らせ
- 材料解析

### 2026.05.29 　X線光電子分光分析 (XPS)ページにアプリケーションノートを追加いたしました

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/2026.05.29-x線光電子分光分析-xpsページにアプリケーションノートを追加いたしました)

[![2026.4.22  集束イオンビーム加工 (FIB) ページを追加いたしました。のサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%B5%E3%83%A0%E3%83%8D%E3%82%A4%E3%83%ABlogo.jpg)

- お知らせ
- 材料解析

### 2026.4.22  集束イオンビーム加工 (FIB) ページを追加いたしました。

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/2026.4.22-集束イオンビーム加工-fib-ページを追加いたしました-)

[![2026.4.14-17  ICEP2026にご参加いただきありがとうございました。のサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%B5%E3%83%A0%E3%83%8D%E3%82%A4%E3%83%ABlogo.jpg)

- 展示会

### 2026.4.14-17  ICEP2026にご参加いただきありがとうございました。

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/2026.4.14-17-icep2026にご参加いただきありがとうございました-)

[![2026.3.27 走査型容量顕微鏡 (SCM) / 走査型広がり抵抗顕微鏡 (SSRM) ページを追加いたしました。のサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%B5%E3%83%A0%E3%83%8D%E3%82%A4%E3%83%ABlogo.jpg)

- お知らせ
- 材料解析

### 2026.3.27 走査型容量顕微鏡 (SCM) / 走査型広がり抵抗顕微鏡 (SSRM) ページを追加いたしました。

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/2026.3.27-走査型容量顕微鏡-scm-/-走査型広がり抵抗顕微鏡-ssrm-ページを追加いたしました-)

[![2026.2.19　透過電子顕微鏡 (TEM)ページをリニューアル、ラザフォード後方散乱分析(RBS)/弾性反跳検出分析(ERDA)ページを追加いたしました。のサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%B5%E3%83%A0%E3%83%8D%E3%82%A4%E3%83%ABlogo.jpg)

- お知らせ
- 材料解析

### 2026.2.19　透過電子顕微鏡 (TEM)ページをリニューアル、ラザフォード後方散乱分析(RBS)/弾性反跳検出分析(ERDA)ページを追加いたしました。

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/2026.2.19-透過電子顕微鏡-temページをリニューアル-ラザフォード後方散乱分析rbs/弾性反跳検出分析erdaページを追加いたしました-)

[![2025.12.19 　信頼性評価試験ページをリニューアルしました。のサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%B5%E3%83%A0%E3%83%8D%E3%82%A4%E3%83%ABlogo.jpg)

- お知らせ
- 信頼性試験

### 2025.12.19 　信頼性評価試験ページをリニューアルしました。

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/2025.12.19-信頼性評価試験ページをリニューアルしました-)

[![2025.11.21 　二次イオン質量分析 (SIMS)、X線光電子分光分析 (XPS)ページをリニューアルしました。のサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%B5%E3%83%A0%E3%83%8D%E3%82%A4%E3%83%ABlogo.jpg)

- お知らせ
- 材料解析

### 2025.11.21 　二次イオン質量分析 (SIMS)、X線光電子分光分析 (XPS)ページをリニューアルしました。

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/二次イオン質量分析-sims-x線光電子分光分析-xpsページをリニューアルしました-)

[![2024.1.10【信頼性試験/故障解析】2024.1.24-26  第16回 オートモーティブワールドに出展致します。のサムネイル](https://iontc.co.jp/hubfs/%E3%82%AA%E3%83%BC%E3%83%88%E3%83%A2%E3%83%BC%E3%83%86%E3%82%A3%E3%83%965.png)

- 展示会

### 2024.1.10【信頼性試験/故障解析】2024.1.24-26  第16回 オートモーティブワールドに出展致します。

](https://iontc.co.jp/service/ana/topics/59-2)

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