化合物半導体の活性化に必要とされている高温高速アニールが可能です。
弊社ではSiCデバイスの作製時のダメージを緩和・低減させる、高温イオン注入からアニール時の基板の表面荒れを防ぐカーボンキャップ膜の成膜、高温高速アニール、キャップ膜の剥離までの一連のプロセスを、一括でお受けすることができます。また活性化アニールの際のSi蒸発による基板荒れを防ぐカーボンキャップ技術も提供可能です。
加熱システム |
縦型高周波誘導加熱方式 |
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加熱温度 |
〜1800℃ |
雰囲気 |
Ar、N2 |
試料のサイズ |
小片5mm角から |
試料の種類 |
SiC、GaNなど |